-
锂电材料用纳米氧化钇
技术指标:项目指标型号UG-Y01D外观白色粉末粒径nm30密度g/cm35.01处理前纯度%99.999锂电池专用处理剂%0.02-0.08La2O3ppm10CeO2p
-
QSK-25气控箱用于气动阻车器 手转阀控制
QSK-25气控箱概述:气动控制箱采用不锈钢材料制成,具有很好的防蚀、抗震能力;易弯曲,编织网套的加强保护,使之具有更高的承压
-
优锆UG-S20纳米二氧化锡透明导电材料用
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
-
低辐射玻璃用纳米氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
-
东达 GWD100 煤矿用温度传感器 便于安装
因原材料价格波动、型号、收货地址不同,具体报价请联系销售人员详情咨询销售经理: 韩经理 13355133657(微信同号)
-
光催化抗菌材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
-
气敏元件材料用纳米氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
-
陶瓷釉料遮光剂用纳米氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
-
半导体电子工业材料用纳米氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
-
WP-330-PCN 直销代理导电布
代替泡棉使用,原来的泡棉有导电布,海绵,胶带组成的。但,新开发的BU产品本身赋予了导电性,靠垫性。可以代替超薄导电性泡棉。